Leica 120mm f/5.6 TS-APO-Elmar-S ASPH. Objektiv (11079)
Produkt Highlights
- Leica S Mount, Mittelformat
- Blendenbereich f/5.6-32
- Tilt-Shift Perspektive
- Parallel Shift bis zu 12mm
- Filter Ø 95mm
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Perspektivische Kontrolle
Ähnlich den Verstellmöglichkeiten einer Fachkamera erlaubt das TS-APO-Elmar-S 1:5.6/120 ASPH. (96 mm äquiv. KB) die Perspektive ebenso wie die Lage der Schärfeebene zu kontrollieren. Das Objektiv zeichnet sich durch einen um 24 mm vergrößerten Bildkreis aus, so dass es sich um bis zu 12 mm in beliebiger Richtung aus der optischen Achse verschieben lässt. Unabhängig davon lässt sich das Objektiv in beliebiger Richtung um bis zu 8° verschwenken und damit die Schärfeebene nach der Scheimpflugschen Regel kippen. Mit dieser Technik können Sie ein Motiv in Schrägsicht dennoch vollständig scharf abbilden.
Technische Details
Der äußere Aufbau des TS-APO-Elmar-S 1:5.6/120 ASPH. unterscheidet sich wegen seiner speziellen Konstruktion als Tilt-/Shift-Objektiv von dem anderer S-Objektive. Zur Einstellung der Blende gibt es einen Vorwahl- und einen Einstellring sowie einen weiteren Einstellring für die Entfernung. Für das Tilten und Shiften besitzt das Objektiv insgesamt vier Ringe: jeweils einen Dreh-/Schiebering für die Einstellung der Verschiebe- und Schwenkrichtung sowie je einen Ring für die Einstellung der Verschiebung und der Schwenkung. Darüber hinaus ist das Objektiv mit einer Stativplatte mit jeweils einem 1/4- und 3/8-Zoll-Gewinde ausgestattet, die sich mittels drehbarer Schelle und Klemmschraube in jeder Ausrichtung fixieren lässt.
Modulationstransferfunktion
Die MTF ist jeweils für die volle Öffnung, sowie für 5,6 und 8 für große Aufnahmeentfernungen (unendlich) angegeben. Aufgetragen ist der Kontrast in Prozent für 5, 10, 20, 40lp/mm über die Höhe des Formats für tangentiale (gestrichelte Linie) und sagittale Strukturen (durchgezogene Linie) bei weißem Licht. Die 5 und 10lp/mm geben einen Eindruck über das Kontrastverhalten für gröbere Objektstrukturen, die 20 und 40lp/mm dokumentieren das Auflösungsvermögen feiner und feinster Objektstrukturen.